- SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
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SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
特点: 1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测铁基体上涂镀层和有色金属
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机
技术参数:测量范围 0-1500µm,0 - 60mils 误差 ±(1µm+1%读数) 分辨率 0.1µm或小于读数的2% 显示 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 基体*小面积 5mmX5mm 基体*小曲率 凸面:1.5mm 凹面:5mm 基体*小厚度 F型:0.2mm ,N型: 50µm 校准 厂家校准,零校准,校准箔校准 数据统计(仅限统计型) 读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值 数据存储(仅限统计型) *多200个测量数值,可单独调出 数据值(仅限统计型) 上下限可调,声音报警 数据接口 红外通讯,IrDA标准 环境温度/表面温度 0-50℃/60℃(可选配150℃) 电源 两节1.5伏五号碱性电池 仪器尺寸 137x66x23mm 符合标准 DIN,ISO,ASTM,BS -
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