• Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

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    Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

    特点: 1.德国PHYNIX公司制造
              2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
              3.同屏显示统计数据
              4.可存储前200测值
              5.可测有色金属涂镀层
              6.基体上涂层,量程1500μm
              7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
              8.有红外可接PC及打印机

      技术参数:
         测量范围  0-1500µm,0 - 60mils
         误差  ±(1µm+1%读数)
         分辨率  0.1µm或小于读数的2%
         显示  背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
         基体*小面积  5mmX5mm
         基体*小曲率  凸面:1.5mm 凹面:5mm
         基体*小厚度  F型:0.2mm ,N型: 50µm
         校准  厂家校准,零校准,校准箔校准
      数据统计(仅限统计型)  读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值
      数据存储(仅限统计型)  *多200个测量数值,可单独调出
        数据值(仅限统计型)  上下限可调,声音报警
         数据接口  红外通讯,IrDA标准
         环境温度/表面温度  0-50℃/60℃(可选配150℃)
         电源  两节1.5伏五号碱性电池
         仪器尺寸  137x66x23mm
         符合标准  DIN,ISO,ASTM,BS
     
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