• Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

    详细信息

    特点:
           1.德国PHYNIX公司制造
           2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
           3.同屏显示              
           4.可测铁基体上涂镀层
           5.基体上涂层,量程1500μm
           6.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
           7.有红外可接PC及打印机 

      技术参数:

         测量范围
     0-1500µm,0 - 60mils
         误差  ±(1µm+1%读数)
         分辨率  0.1µm小于读数2%
         显示  背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
         基体*小面积  5mmX5mm
         基体*小曲率  凸面:1.5mm凹面:5mm
         基体*小厚度  F型:0.2mm,N型:50µm
         校准  厂家校准,零校准,校准箔校准
         数据接口  红外通讯,IrDA标准
         环境温度/表面温度  0-50℃/60℃(可选配150
         电源  两节1.5伏五号碱性电池
         仪器尺寸  137x66x23mm
         符合标准  DINISOASTMBS
     
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