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- Surfix Pro S *级测厚仪 膜厚仪 膜厚计
详细信息
特点
1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度2.同屏显示各统计值，配合7种测头
3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
4.量程：0~10mm 精度：0.1μm，见测头参数
5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机
6.探头需另选购 -
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