• Surfix PF内置探头铁基统计型测厚仪

    详细信息

    特点

             1.德国PHYNIX公司制造
             2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
             3.同屏显示数据统计值
             4.可存储前80个测值
             5.可测铁基体上涂镀层
             6.量程1500μm,精度±1μm+1%读数
             7.分辨率0.1μm.背景光
             8.有红外可接PC及打印机

    技术参数:
          测量范围  0-1500µm,0 - 60mils
               误差  ±(1µm+1%读数)
               分辨率  0.1µm或小于读数的2%
               显示 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 
               基体*小面积  5mmX5mm
               基体*小曲率  凸面:1.5mm    凹面:50mm
               基体*小厚度  F型:0.5mm ,N型:50µm
               校准   厂家校准,零校准,校准箔校准
               数据统计(仅限统计型)  读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值
               数据存储(仅限统计型)  *多80个测量数值,可单独调出
               数据值(仅限统计型)  上下限可调,声音报警
               数据接口  红外通讯,IrDA标准
               环境温度/表面温度  0-50℃/60℃(可选配150℃)
               电源  2节1.5伏七号碱性电池
               仪器尺寸  107X50X25mm
               符合标准  DIN,ISO,ASTM,BS
             操作语言  英语、德语或法语
     
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